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低電阻測(cè)試儀

Trek表面電阻測(cè)試儀日置低電阻測(cè)試儀固緯低電阻測(cè)試儀安柏低電阻測(cè)試儀和普低電阻測(cè)試儀同惠低電阻測(cè)試儀

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安柏多路并行電阻測(cè)試儀AT51X8是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、并行測(cè)量的多路電阻測(cè)試儀，可以對(duì)8路電阻進(jìn)行同時(shí)測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示8路電阻值，并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器。應(yīng)用于自動(dòng)化設(shè)備，可使用RS232C及HANDLER接口輸出OK/NG信號(hào)，以提高生產(chǎn)自動(dòng)化測(cè)試能力!
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AT5130安柏多路電阻測(cè)試儀

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AT5120安柏多路電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2023-10-08

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安柏多路電阻測(cè)試儀AT5120是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、多路電阻測(cè)試儀，可以對(duì)20路電阻進(jìn)行掃描測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示20路電阻值，并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器，AT5120可以測(cè)試1μΩ～30KΩ的電阻，顯示位數(shù)30,000數(shù)。同時(shí)還具有標(biāo)配的溫度補(bǔ)償功能可以適應(yīng)不同要求的測(cè)試。
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AT5110安柏多路電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2023-10-08

型號(hào)：AT5110

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安柏多路電阻測(cè)試儀AT5110是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、多路電阻測(cè)試儀，可以對(duì)10路電阻進(jìn)行掃描測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示10路電阻值，并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器，AT5110可以測(cè)試1μΩ～30KΩ的電阻，顯示位數(shù)30,000數(shù)。同時(shí)還具有標(biāo)配的溫度補(bǔ)償功能可以適應(yīng)不同要求的測(cè)試。
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AT5108安柏多路電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2023-10-08

型號(hào)：AT5108

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安柏多路電阻測(cè)試儀AT5108是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、多路電阻測(cè)試儀，可以對(duì)8路電阻進(jìn)行掃描測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示8路電阻值，并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器，AT5108可以測(cè)試1μΩ～30KΩ的電阻，顯示位數(shù)30,000數(shù)。同時(shí)還具有標(biāo)配的溫度補(bǔ)償功能可以適應(yīng)不同要求的測(cè)試。
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AB2511安柏直流電阻測(cè)試儀

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型號(hào)：AB2511

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AT518L安柏手持電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2023-10-07

型號(hào)：AT518L

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AT518L安柏手持電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程，采用高性能32位ARM微處理器控制的便攜手持儀器，內(nèi)置大容量鋰電池在任何場(chǎng)合可長(zhǎng)時(shí)間實(shí)現(xiàn)對(duì)無(wú)源元件進(jìn)行精確而便捷的測(cè)量。AT518L配置3.5“高清液晶顯示屏，大字體顯示更方便您讀取數(shù)據(jù)。儀器可以測(cè)試10μΩ～200KΩ的電阻，顯示位數(shù)20000數(shù)。
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AT518安柏手持電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2023-10-07

型號(hào)：AT518

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AT518安柏手持電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程，采用高性能32位ARM微處理器控制的全自動(dòng)實(shí)時(shí)檢測(cè)的微型手持式儀器，在任何場(chǎng)合可長(zhǎng)時(shí)間實(shí)現(xiàn)對(duì)無(wú)源元件進(jìn)行精確而便捷的測(cè)量。儀器可以測(cè)試10μΩ～20MΩ的電阻，顯示位數(shù)20000數(shù)。電流測(cè)試模式可以適應(yīng)不同要求的測(cè)試。并配備Mini-USB通訊接口，用于遠(yuǎn)程控制和數(shù)據(jù)采集與分析。
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